Đây không phải là lần đầu tiên Xiaomi mở cửa các nhà máy của mình cho người dùng, cho phép chúng tôi duyệt hoặc kiểm tra tốt hơn các quy trình khác nhau dẫn đến việc kết thúc một sản phẩm. Chúng ta biết rằng một thời gian, thương hiệu Trung Quốc đã nổi bật với tỷ lệ chất lượng / giá cả tuyệt vời, đặc biệt là nếu chúng ta liên kết sự kết hợp này với thị trường điện thoại thông minh. Ở đây, một khía cạnh thực sự gần gũi với trái tim của người dùng hàng ngày sử dụng điện thoại thông minh Xiaomi là pin, không chỉ được hiểu là quyền tự chủ, mà còn là sự an toàn và độ bền và đó là lý do tại sao chính CEO của Xiaomi đã mở cửa tại Phòng thí nghiệm Pin, cho chúng ta thấy các bài kiểm tra dành riêng cho pin điện thoại thông minh.
Pin LAB: đây là cách Xiaomi kiểm tra pin điện thoại thông minh
Để không tham gia quá nhiều vào các kỹ thuật và làm phiền bạn, chúng tôi đã đăng lại video chính thức xuất hiện trên các hồ sơ xã hội khác nhau của công ty. Tuy nhiên, trong vài phút của video, tất cả các quy trình để kiểm tra pin điện thoại thông minh đã được trình bày. Trong Phòng thí nghiệm pin của Xiaomi, bạn có thể bắt gặp một trận tuyết lở của các thiết bị đầu cuối, thay thế các loại pin khác nhau cho mỗi lô, cũng như gặp phải nhiệt độ khắc nghiệt, để mô phỏng các tình huống có hại nhất đối với pin, với các giá trị nằm trong khoảng từ + 85 ° C ở -40 ° C.
Nhưng điều này không là gì, bởi vì trong Phòng thí nghiệm pin Xiaomi, các bài kiểm tra sức đề kháng vật lý thực sự cũng được thực hiện. Có lẽ chưa được chú ý đúng mức, nhưng mỗi viên pin được thử nghiệm đều phải chịu một lực ép, để đảm bảo độ bền tốt cho cả cấu trúc bên ngoài và các mạch bên trong nó. Ngoài ra còn có các ứng suất điện đến từ các nguồn khác nhau, tất cả đều để xác minh khả năng chống lại sự cố điện.
Không còn nghi ngờ gì nữa, việc đảm bảo chất lượng tối thiểu, nhưng trên hết là an toàn về pin, là điều hoàn toàn cần thiết để duy trì hình ảnh đẹp và trên hết là đảm bảo việc sử dụng điện thoại thông minh của bạn và Xiaomi đã thực sự gây bất ngờ tích cực cho chúng tôi.
